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Fachbeitrag: FET-Tester FET1000

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  • 201400
  • 2003-01-16
Wir stellen eine einfache Testschaltung zum Überprüfen von FET- sowie MOSFET-Transistoren vor. Getestet wird die Schaltfunktion des Transistors, wobei sowohl selbstleitende (Depletion)- als auch selbstsperrende (Enhanced)-Typen sowie N- und P-Kanal-Typen geprüft werden können.
Bausatzinformationen
ELVjournal
1 / 2003
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